KAIST 전산학부 김문주 교수와 유신 교수가 정보과학회 Top A급 우수 국제학술대회인 2014년 IEEE Intl. Conf. on Software Testing, Verification and Validation (ICST) 에서 발표한 논문 "MUSE (MUtation-baSEd fault Localization)"가 IEEE ICST 2024에서 지난 10년간 가장 영향력 있는 논문에 수여되는 Most Influential Paper Award를 수상했다.

출처: ICST 2024 Most Influential Papers

김문주 교수와 유신 교수 연구팀은 소프트웨어 개발 과정에서 많은 개발자의 시간이 오류 위치를 찾고 수정하는 데 소요되는 문제를 해결하기 위해, 새로운 자동 오류 위치 검출 기술인 MUSE를 개발했다.
MUSE는 테스트 대상 소프트웨어를 다양한 방식으로 변이시킨 후, 각 변이 버전에 대한 테스트 통과/실패 결과의 변화를 통계적으로 분석하여 소프트웨어 오류의 위치를 정확히 검출하는 혁신적인 기술을 도입했다.
이 연구는 소프트웨어 오류 위치 자동 검출 분야의 새로운 장을 열었으며, 많은 후속 연구가 이를 기반으로 진행되어 소프트웨어 품질 향상에 큰 기여를 했다.